采购者需要牢记的是,你们需要的不仅仅是电子元器件,更需要安全。WHITE HORSE确保你们采购到的电子元器件及配件会按照既定的需求来运行。

电子元器件的产品种类如此繁多,从简单的被动元器件和分离式元器件,电力传输和管理元器件,到集成电路。新的应用程序每天都在出现和发展,新产品需要新的方法来衡量及辨别其性能。

我们的工程师整合了各种标准方法,检测设备,制造商规格详述和大量的试验,开发出具有创新性的解决方案,来解决您遇到的各种问题。

电子元器件测试

不同类型的电子元器件具有不同的功能,需要的测试也因此不同,且测试分为不同的等级。由于不同的公司在使用不同的测试名称术语,使得听众迷惑加剧。更糟糕的是,有时为了迷惑潜在的采购商,一些极其简单的两个引脚之间的连接性测试会被冠以漂亮的测试名称成为吸引人的噱头,实际上这种测试很多时候都是用没有经过正规校验的万用表,由非专业人员手持操作的。

WHITE HORSE从回复最初的咨询,到测试方法和测试计划都是完全透明的。关键点是,事先的交流,后续的测试以及报告的完成都是精确、严格的。为了达到这一关键点,一个装备齐全的实验室需要具有从性能参数测试,功能性测试,直到温度范围测试以及开关特性(速度)测试的能力。这也是如何真正辨别质量问题的方法,而通常意义上的“基础测试”往往太过于基础了。

  • MIL-STD-202
  • MIL-STD-750
  • MIL-STD-883
  • Group A, Subgroups 1-12
  • EIA-198-2E
  • Up-screening

独立的失效分析服务

当产品出现故障时,人们会从机器到电路板装配再到具体的电子元器件进行分析,失效分析是渐进式的过程,逐步分析后找出失效模式,失效方法,进而找到导致失效的原因(失效原理)。在电子元器件这类产品中,即便是从制造商和授权经销商直接出货且退货率通常低于1%,由于在每月大量发货的情况下,其中的风险也是非常大的。而制造商完成一个失效分析平均所需的时间是3-4周,包括物流时间。您或者您的客户能够等待那么长的时间才能决定下一步的行动吗?

如果物料来源是不具有可追溯性的,制造商通常不会提供失效分析服务的支持。那么你要到哪里去寻求帮助呢?如果你要求供应商提供失效分析,你能确信他们会花费更多的时间和金钱来满足你的需求,还是他们更愿意提供一份对自己有利的报告?

WHITE HORSE拥有引以为傲的专业工程师团队,可完全自由支配使用的实验分析设备,辨别能力超越一般性EOS失效,能够侦辨出真正的失效模式和失效原理。

获取失效分析检测方案

  • 外观检测
  • 参数和功能检测
  • Curve Trace 曲线追踪
  • X 射线扫描分析
  • 超声波扫描 (TSAM and CSAM)
  • 解剖和晶圆分析
  • 切片分析
  • 高倍显微镜
  • 扫描电子显微镜检查 (SEM)
  • 能量色散X射线光谱 (EDX/EDS)
  • 液晶测试 (Hotspot)
  • 傅里叶变换红外光谱(FTIR)

伪造电子元器件侦测

作为电子元器件“警察”,WHITE HORSE对阻击伪造电子元器件的战斗始于2004年,不仅仅在前线,更是在战斗的原爆点。我们是第一个在中国成立的侦测伪造元器件的公司,帮助行业撰写了标准和规范,拥有最具专业性的工程师和客户服务团队,最广泛的测试能力范围。是值得您信任的不二之选!

全面综合性的分析才能把原装正品与伪造品和不合格品区分开,敬请浏览一下我们的多层陶瓷电容测试服务 MLCC service package 或者主动分离式元器件测试服务Service Profile for Active Discretes 您会明白为什么仅仅一个简单且单独的测试项目是不够的。

我们装备齐全的实验室和专业的工程师团队将为您提供:

    • Documentation and Packaging Inspection (DPI) 文件和包装检查
    • General Inspection and Sampling (GIS) 基础的整体检查和抽样
    • External Visual Inspection (EVI) 外观检测
    • Remarking and Resurfacing Tests (MPT and RTS) 表面重印字测试
    • X-ray Florescence (XRF) Material Analysis X射线成分分析
    • X-ray Analysis X射线扫描分析
    • Solderability Testing 可焊性测试
    • Heated Chemical Testing (HCT) 热化学溶剂测试
    • Decapsulation and Die Analysis 解剖和晶圆分析
    • Comprehensive Electrical Testing Capabilities 综合全面的电性能测试
    • Complete Engineering Analysis 完整的工程师分析
    • Extensive Database 庞大的数据库支持
  • AS5553
  • AS6081
  • AS6171
  • IDEA-STD-1010B
  • CCAP-101

使用周期及可靠性测试

当然,今天这颗芯片是可以用的,但是下周它还能用吗?很多公司在没有可行的其他方案的情况下,不得不使用翻新的或者是停产的电子元器件,那么老年份的芯片还能用吗?新的方案需要测试以保证其会按照设计意图来运行,新产品需要施压来证实其能够承受的范围。

    • Solderability Testing 可焊性测试
    • Burn-in 老化测试
    • Temperature and Humidity Exposure 温度湿度测试
    • Salt spray 盐雾测试
    • Thermal Shock 热冲击
    • Temperature Cycle 温度循环
    • Vibration 震荡测试
    • Drop Test 坠落测试

质量标准与资格证书

询价

我们可为您提供不同的测试项目,快速有效的为您鉴别电子元器件,还在等什么?赶紧来联系我们吧。

[contact-form-7 404 "找不到符合條件的項目"]

联系我们

客服电话

24小时邮箱

时刻关注我们的新闻动态

确保您的供应链安全: 在我们的定期周报中,会介绍当前行业的趋势和发展动态,其中包含最受大家关注的不合格物料清单